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760450 產(chǎn)品規(guī)格書

產(chǎn)品信息

VIT VIS/NIR/SWIR 成像探測器測試系統(tǒng)

產(chǎn)品編號：760450

可見光-短波紅外焦平面測試系統(tǒng)

工作范圍在可見光、近紅外以及短波紅外的電子成像探測器生成的二維電子圖像在工業(yè)、國防、安全、科研、環(huán)保、醫(yī)療等領(lǐng)域有著重要的應(yīng)用。工作范圍在VIS/NIR波段的成像探測器幾乎全部基于硅材料的技術(shù)：彩色或者單色制式的CCD、 CMOS. ICCD、EMCCD、EBAPS、sCMOS等。彩色VIS/NIR探測器的工作波段只局限于可見光波段而單色VIS/NIR探測器的工作波段則可以達(dá)到1000nm。
InGaAs成像探測器的工作范圍在SWIR波段：非制冷類型工作在900nm-1700nm；制冷類型工作在1000nm到約2200nm以及特殊的帶寬從600nm到1700nm。
由黑硅材料研制的成像探測器在紅外波段（可到1300nm或者更長）具有更高的靈敏度，目前是市場上的新技術(shù)。
VIT測試系統(tǒng)是一個可擴(kuò)展的用于測試硅成像探測器、黑硅成像探測器以及InGaAs成像探測器的測試系統(tǒng)，支持硅/黑硅/InGaAs成像探測器所有重要參數(shù)的測試。

VIT測試系統(tǒng)組成	VIT測試系統(tǒng)測試功能
雙光源探測器控制器圖像采集卡 PC組測試軟件（DIP控制軟件，CON控制軟件，VITO測試軟件）	輻射參數(shù)：相對光譜靈敏度，量子效率，靈敏度，動態(tài)范圍，線性度，NEI，固定圖形噪聲，非均勻性，信噪比，壞像素數(shù)， 3D噪聲成像參數(shù)：調(diào)至傳遞函數(shù)，分辨率，最小可分辨對比度，視場。

規(guī)格參數(shù)

1．雙光源投影系統(tǒng)

輻射通道
光源類型	配有光機(jī)衰減器的鹵素?zé)艄庠?/td>
光譜范圍	350nm到2100nm
色溫	2856K±100K在400-1300nm光譜范圍
探測器焦平面上的亮度范圍	1μlux到20 000lx (2X1010動態(tài)范圍)
調(diào)節(jié)分辨率	1μlux（在低照度范圍）
調(diào)節(jié)穩(wěn)定性	優(yōu)于設(shè)定值的2%
可選擇的光譜范圍	16（用戶可以選擇需要的波長）
帶寬	10nm
標(biāo)定的光源	光度學(xué)單元（cd/m2）用于帶寬模式，輻射度(W/m2)用于窄帶模式，范圍依據(jù)于被選擇的波長
成像通道
光源類型	一組三個單色LED光源
可選擇的波長	590nm(VIS), 850nm(NIR), 1060nm(SWIR)
探測器焦平面上的亮度范圍	光源的標(biāo)定由W/m2單元但是基本上可以等同于模擬0.1lx到1000lx的2856K色溫光源

2．靶標(biāo)：一組不同對比度的USAF1951靶標(biāo)、刀口靶標(biāo)、視場靶標(biāo)、圓孔靶標(biāo)。

投影系統(tǒng)光譜范圍	400nm到1100nm
分辨率	至少400lp/mm（在590nm），300lp/mm(在850nm)， 200lp/mm(在1060nm)

3．CON控制器

版本A	Inframet設(shè)計生產(chǎn)的特殊控制器用于硅，黑硅或者InGaAs探測器
版本B	多功能的可編程控制器用于控制更為廣泛的VIS-SWIR探測器

4．一組圖像采集卡：不少于兩個

類型	典型配置：模擬視頻及CameraLink

5．測試軟件

電腦軟件列表	DIP控制軟件，CON控制軟件，VITO測試軟件
DIP控制軟件功能	遠(yuǎn)距離控制光譜選擇器（照明器的光譜），輻射通道出口提供輻照，圖像投影儀的光譜，成像通道出口提供輻照以及投影靶標(biāo)類型的確認(rèn)
CON控制軟件	提供被測試成像探測器必要的控制以及時間輸入信號
VITO測試軟件	a)采集由被測試的成像探測器生成的視頻圖像； b)測試成像探測器的參數(shù)：相對光譜靈敏度，量子效率，靈敏度，動態(tài)范圍，線性度，NEI，固定圖形噪聲，非均勻性，信噪比，壞像素數(shù)， 3D噪聲，調(diào)至傳遞函數(shù)，分辨率，最小可分辨對比度，視場。
電源	230/110 VAC 50/60 Hz
尺寸	120x66x58 cm
重量	89kg

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