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750179 產(chǎn)品規(guī)格書(shū)

產(chǎn)品信息

OptoFlat 高精度低相位干涉儀

產(chǎn)品編號(hào)：750179

OptoFlat高精度低相位干涉儀

OptoFlat是行業(yè)內(nèi)獨(dú)有的低成本、高穩(wěn)定性、高剛性以及結(jié)構(gòu)緊湊的平面專用低相干干涉儀。其采用低相干性長(zhǎng)壽命的633nm的LED光源，波長(zhǎng)帶寬1nm。在測(cè)量透明材質(zhì)的雙面平行光學(xué)原件的單個(gè)表面面型時(shí)不會(huì)受到其他表面的干涉條紋影響，所以O(shè)ptoFlat可以排除來(lái)自多個(gè)表面的干擾，直接測(cè)得目標(biāo)表面的面型精度。對(duì)于測(cè)量實(shí)心玻璃棱鏡的前表面面型時(shí)也可以抑制其他反射面的影響的。

產(chǎn)品應(yīng)用

測(cè)量拋光光學(xué)表面的面型和透射波前

產(chǎn)品特點(diǎn)

自動(dòng)光強(qiáng)調(diào)節(jié)與FlexFlatTM傳輸平臺(tái)相結(jié)合，減少了操作人員在測(cè)量時(shí)的干預(yù)

無(wú)需反復(fù)測(cè)量，無(wú)需掃描測(cè)試位置

與其他基于激光的Fizeau干涉儀不同，OptoFlat集成了長(zhǎng)壽命的LED光源

內(nèi)置專有的PurePhaseTM方法提升了在不穩(wěn)定的振動(dòng)環(huán)境中的干涉相位測(cè)量

校準(zhǔn)過(guò)的低畸變1X和4X光學(xué)放大倍率的比例尺準(zhǔn)確的測(cè)試面積尺寸，可自動(dòng)標(biāo)記或用戶定義有效通光孔徑，便于判定測(cè)試合格/不合格

簡(jiǎn)單易用的測(cè)試軟件界面便于光學(xué)原件的批量測(cè)試，使任何人只要稍加培訓(xùn)就可以輕松測(cè)試多樣的光學(xué)原件，專業(yè)的樣品承載臺(tái)可快速批量測(cè)試每個(gè)零件。非接觸式傳感器開(kāi)始測(cè)量并能快速分析判斷產(chǎn)品合格/不合格

設(shè)計(jì)簡(jiǎn)潔，占地小，沒(méi)有雜亂的電纜，只有交流電源和USB電纜到電腦

規(guī)格參數(shù)

產(chǎn)品編號(hào)	750179
產(chǎn)品型號(hào)	OptoFlat
放大倍率	1×放大倍率	4×放大倍率
有效測(cè)量區(qū)域	Φ101.6mm	Φ25.4mm
相機(jī)分辨率	1200×1200pixels	1920×1200pixels
相機(jī)頻率	40Hz	40Hz
空間采樣	88μm/pixel	22μm/pixel
畸變	0.08%	0.05%
景深	+/-12.6mm	+/-2.2mm
RMS測(cè)量精度	0.1nm
RMS重復(fù)性	0.03nm
波長(zhǎng)	633nm,1nm FWHM
相干深度	300μm
工作距離	90mm
傾斜調(diào)整范圍	+/-2°
平移調(diào)整范圍	+/-8mm
樣品承載臺(tái)	175×175mm
軸向移動(dòng)范圍	65mm連續(xù)移動(dòng)，100mm拆掉墊圈
最大被測(cè)樣品	100mm厚，5kg重

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